■製品名：光ファイバ端面3次元形状測定器　BINNA2

■製品名：光ファイバ端面3次元形状測定器　BINNA2光ファイバ端面3次元形状測定器は、ファイバ端面の凹凸による光路差で生じた干渉縞を利用して端面の3次元形状を測定する装置で、曲率半径（ROC)、ファイバ高さ（フェルール面からのファイバの凹凸）、頂点オフセット（研磨頂点とファイバ中心との位置ずれ）、研磨角度（APC）などを短時間で測定できます。 BINNA2は、従来のSANA2シリーズにオートフォーカスとオートキャリブレーション機能を追加したよりパワフルな機種です。新ソフトウェアにより測定精度と速度が大幅に向上し、測定時間はわずか0.5秒です。 新固定治具により耐振動性能、寿命、安定性も向上しています。    

■ 特徴 ・-1000nm〜1000 nmファイバ高さ ・自動フォーカスと自動キャリブレーション ・測定時間はわずか0.5秒 ・3次元形状の再生に最適 ・ベアファイバのクリーブ角度を測定 ・安定したデータ伝送 ・優れた耐振動性