■製品名：LID（Laser-Induced Deflection ）測定システム

■製品名：LID（Laser-Induced Deflection ）測定システムLID（Laser-Induced Deflection ）測定システムは、バルク材料やコーテイング膜の極めて低い吸収レベルを測定するために開発された最新の測定装置で、sub-ppm (< 10-6 / cm)レベルの測定が可能です。光学ガラス（SiO2、BK7、…）、光学結晶（CaF2、YVO4、LiNbO3、…）、透明樹脂（ポリアクリレート、…）などに適用可能です。

図1. LIDデバイス例–LID吸収測定システムの中枢部分	図2. 2波長測定システムの例

図3. 立方体サンプルのセット	図4. 円形薄膜サンプルのセット	図5.敏感なテストビーム位置 計測用二重検出ユニット

■用途 •サンプルバルク材料内、サンプル表面、HR / ARコーティングに吸収された絶対パワーの直接測定 •光学ガラス（SiO2、BK7、…）、光学結晶（CaF2、YVO4、LiNbO3、…）、透明樹脂（ポリアクリレート、…）に適用可能 •材料特性に依存しない絶対パワーキャリブレーション機能を備えていますので、絶対吸収係数α（バルク材料の場合は[cm-1]）を決定できます。 •感度<10μW/ cmNEP（SiO2）→　α<1ppm / cm •1つまたは複数の波長での測定を選択可能、ポンプレーザー出力の大きさで感度が変化→予算や目的に応じた構成が可能 •対象顧客：光学ガラスや結晶メーカー、薄膜メーカー、品質管理
■測定原理 サンプルへ強い緑色レーザーを照射 ◦レーザ光の一部が吸収されサンプルを加熱 ◦屈折率の局所的な熱変化が起きる ◦2つの横方向テストレーザービーム（赤）の光路が変化 ◦光路変化〜吸収に比例

■仕様

吸収レベルの測定	sub-ppm (< 10-6 / cm)
カスタマイズ可能なサンプル形状ー標準タイプ：	立方体(20 × 20 × 20)mm³ 直方体　例えば(8 × 8 × ≥12)mm³ 薄いディスク　例えば25mm Ø × 2mm
電源 レーザ/周辺機器 LIDデバイス	. 100–240V AC, 50 Hz…60 Hz 24VDC 安定化電源（付属）
データ取得、A / D変換、データ処理用モジュール
PCへのインターフェース（Windows 10は含まれていません）：LAN
・評価用ソフトウェア（キャリブレーションおよびテストサンプル測定分析） ・測定データのデータベース処理用ソフトウェア（製造、測定パラメータの入力、サンプル番号など）
メーカ	SPECK SENSORSYSTEME GmbH

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